3手机耐久寿命测试
手机的耐久性或者收名测试的项目有按键的耐久测试，电池（盖）拆装测试，SIM卡拆装寿命测试，耳机线插拔寿命测试，USB数据线插拔寿命测试，手机屏点击寿命测试，翻盖寿命测试，划屏寿命测试等。

3.1按键测试（按键寿命测试，按键耐久测试）

测试目的：验证手机的按键使用寿命
测试设备：按键耐久试验机
样品数量： 2 PCS
测试方法：测试前检查手机的外观结构、基本功能，选择待测试的按键，然后将样机开。
机固定在按键耐久试验机上，以 3～5N 的力按压规定的次数，按压速度为 50～60 次/min。功能键及数字键共计测试 10 万次，侧键及其它独立开关键测试 5 万次，每 2 万次检查一次；测试过程中需打开按键音。
判定标准：按键手感良好，按键外观无破裂，基本功能正常。

3.2电池（盖）拆装测试

测试目的：验证长期拆装电池（盖）对相关器件及基本功能的影响
测试设备：人工操作
样品数量： 2 PCS
测试方法：按照正常的电池(盖)拆装方法，对样机的电池(盖)进行拆装 2000 次，每100次开机检查一次样机的基本功能及电池卡扣的结构和外观。
判定标准：电池 Connector 弹性良好，电池接触良好，电池供电功能应正常,电池盖无明显的松动。

3.3SIM卡拆装测试

测试目的：验证长期拆装 SIM 卡对相关器件的影响
测试设备：人工操作
样品数量： 2 PCS
测试方法：按照正常的 SIM 卡拆装方法，对样机的 SIM 卡座进行拆装 500 次，每50 次开机检查一次样机的读卡情况及 SIM 卡座的结构和外观。
判定标准：测试过程中不能出现不识卡现象， SIM 卡座弹性应良好，无其它结构方面问题。

3.4耳机线插拔寿命测试

测试目的：验证耳机与手机插孔的插拔寿命
测试设备：插拔耐久试验机
样品数量： 3 PCS
测试方法：按正常使用方式，手持样机，把耳机插头将耳机插入到耳机插孔中，然后拔出耳机插头完成一次插拔；按以上步骤以 10～20 次/分的速度反复进行插拔测试。共计插拔 3000 次，测试过程中每隔 500 次要检查一次耳机的通话效果、音质的变化及耳机插孔的磨损情况；
判定标准：耳机插头无严重磨损，通话功能正常且无杂音，测试前后的插拔力无明显变化。

3.5USB数据线插拔测试

测试目的：验证数据线与手机插孔的插拔寿命
测试设备：插拔耐久试验机
样品数量：3 PCS
测试方法：把手机固定在测试平台上，用夹具夹持数据线插头部位插入到 I/O 口中，停留 1 秒后拔出，插拔 1000 次后检查数据线插头部位的磨损情况和数据传输功能，共计插拔 3000 次；
判定标准：手机插孔及数据线插头无严重磨损，数据传输功能正常。

3.6手机屏点击测试

测试目的：验证触摸屏的使用寿命
测试设备：多功能试验机
样品数量： 3 PCS
测试方法：将样机开机触摸屏朝上固定在测试平台上，用测试夹具夹持配套使用的手写笔，在触摸屏可触摸区域以 2 次/秒的速度进行点击测试；手写笔点击力度为 250g；总共点击 100 万次，每隔 10 万次检查一次触摸屏的基本功能。
判定标准：触摸屏表面无损伤，触摸功能正常。

3.7翻盖寿命测试

测试目的：验证样机 FPC、转轴、滑轨的使用寿命
测试设备：翻盖(滑盖)耐久试验机
样品数量： 3 PCS
测试方法：测试前检查手机的外观、基本功能及电气性能，把样机开机固定在翻盖(滑盖)机平台上，调整好翻盖机的翻盖角度和力度，设置翻盖(滑盖)速度为 25～35 次/分左右，然后启动设备进行测试；共测试 5 万次，要求每 1 万次检查一次外观结构、基本功能。测试过程中手机保持开机状态，且必须打开翻盖(滑盖)音。测试过程中着重检查转轴(滑轨)处的机械性能及 LCD 显示方面的问题，并做详细记录。
判定标准：转轴(滑轨)无明显的磨损，翻盖(滑盖)不会在重力作用下自行打开，其它外观。

3.8划屏寿命测试

试验条件：触摸屏测试仪，直径为0.8mm的塑料手写笔或随机附带的手写笔
测试目的：触摸屏划线疲劳测试
样品数量：2PCS
试验方法：将手机设置为关机状态，在同一位置划线至少100,000次，力度为250g。
滑行速度：60mm/秒
检验标准：不应出现电性能不良现象;表面不应有损伤。

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